《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》一书具有很强的实用性，可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射Rietveld法结构精修和GSAS软件的研究人员的入门参考书，也可以作为本科生、研究生教学的实验教材。

　　Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

第1章 Rietveld法结构精修

1.1 Rietveld法结构精修发展概况

1.2 Rietveld法基本原理

1.3 参数修正顺序与结果判据

1.3.1 参数修正的顺序

1.3.2 精修的数值判据

1.3.3 精修的图示判断

1.4 精修过程出现的问题和对策

1.5 Rietveld法结构精修的应用

1.5.1 修正晶体结构

1.5.2 相变研究和点阵常数测定

1.5.3 物相定量分析

1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定

第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍

2.1 GSAS软件简介

2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装

2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍

2.3.1 菜单栏

2.3.2 选项卡界面

2.3.3 EXPGUI帮助内容

第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步

3.1 精修前的准备工作

3.1.1 衍射数据的测定

3.1.2 衍射数据的转换

3.1.3 初始结构的获取

3.2 EXPGUI精修简单示例

3.2.1 生成EXP文件

3.2.2 精修过程

3.2.3 常见问题

3.3 精修结果提取与绘图

3.3.1 精修结果提取

3.3.2 精修图谱绘图

第4章 EXPGUI-GSAS提高练习

4.1 仪器参数文件的建立

4.1.1 基本知识

4.1.2 操作过程

4.2 物相（含非晶）定量分析

4.2.1 基本原理

4.2.2 衍射数据测试

4.2.3 精修过程

4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用

4.3.1 问题描述

4.3.2 精修过程

参考文献

 　　X射线多晶衍射技术用于分析材料的相结构、相组成、晶粒大小、晶粒取向以及微结构等，是研究多晶材料结构与性能间关系的重要手段，广泛应用于材料、化学、物理、地质、建筑、航空航天以及医药等领域。但是X射线多晶衍射具有固有的缺点，衍射峰重叠严重，丢失了大量有用的结构信息。1967年荷兰晶体学家HugoM.Rietveld提出了利用计算机对中子多晶衍射数据进行全谱拟合的方法，克服了过去多晶衍射数据仅利用积分强度的不足，充分利用了衍射谱的所有信息，可以获得多晶材料的结构信息。1977年，Rietveld法扩展到了X射线多晶衍射数据的分析。随着计算机的发展和普遍应用，Rietveld法得到了完善和广泛应用，目前已经成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。

　　《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》一书内容总共包含四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍了Rietveld法结构精修的发展概况、基本原理、精修策略及主要应用。第2章主要介绍常用精修软件EXPGUI-GSAS的安装、使用界面以及各种参数的意义。第3章简要介绍精修用X射线多晶衍射数据的测定要求以及实验条件的选择，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS软件的操作过程、精修结果的提取以及精修图谱的绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

　　本书可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射数据Rietveld法结构精修和GSAS软件的入门参考资料，也可以作为本科生、研究生的实验教材。

　　本书第1章由李强教授编写，第2～4章由郑振环编写。书中一些具体数据和操作示例来源于一些已经发表的文献，已列于参考文献，在此向原作者表示感谢。

　　由于作者的水平有限，书中难免存在错误和不足之处，诚恳地希望广大读者批评指正。