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表面分析技术/(英)约翰.C.维克曼,(英)伊恩.S.吉尔

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商品详情

表面分析技术/(英)约翰.C.维克曼,(英)伊恩.S.吉尔

作  者:(英)约翰·C.维克曼,(英)伊恩·S.吉尔摩编;陈建等译 著
定  价:200
出 版 社:中山大学出版社
出版日期:2020年12月01日
页  数:400
装  帧:精装
ISBN:9787306066893

内容介绍

本书介绍表面分析主要技术,包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析,每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练,判断自己对书中知识内容掌握的程度。

(英)约翰·C.维克曼,(英)伊恩·S.吉尔摩编;陈建等译 著

陈建,中山大学研究员、博士生导师,主要研究领域包括材料的分子光谱和电子能谱分析、纳米材料表面和界面性能研究等。

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