目录

●前言
第1章 引言 1
1.1 晶体结构精修的重要性 1
1.2 Topas技术在晶体结构精修中的应用 2
第2章 晶体结构精修原理 4
2.1 Rietveld 法概述 4
2.2 Rietveld法数学模型 7
2.2.1 Rietveld法数学模型介绍 7
2.2.2 Topas技术全谱图拟合精修的策略 13
2.2.3 精修结果正确性判据及结构精修常见问题 14
第3章 精修技术 19
3.1 Topas技术功能及特点 19
3.2 用户界面 22
第4章 精修分析 43
4.1 粉末衍射结构解析中的指标化 43
4.2 磷酸铁锂的精修 45
4.3 菱铁矿多相的精修 81
第5章 精修有关的其他问题 115
5.1 计算两相比例方法 115
5.2 晶胞参数拟合 124
5.3 晶粒尺寸 132
5.4 微观应力 142
第6章 结论与展望 155
6.1 晶体结构精修的意义与价值 155
6.2 Topas软件在晶体结构精修中的优势与不足 156
6.3 未来发展方向与挑战 157
参考文献 158