书名：工程纳米测量基础（第二版）（引进版）  
ISBN：9787308175630  
作者：袁道成  


内容提要：  
本书从先进制造技术质量控制角度，介绍了测量基本知识，精密测量仪器设计原则，长度测量溯源，位移测量，表面形貌测量仪器，扫描探针和粒子束显微，表面形貌特征描述，坐标测量，质量和力测量，测量国际单位及其在NPL实现等。  
本书可用作高校测量技术、机械设计和机械加工等专业的基础教材，也可作为相关专业研究人员、高校师生以及工程技术人员的参考用书。  



作者简介：  
袁道成，中国工程物理研究院机械制造工艺研究所研究员。主要研究方向为精密测量技术应用、误差理论、位移传感器等领域。  

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