书名：专用集成电路设计实用教程  
ISBN：9787308051132  
作者：虞希清  

内容提要：  
本书主要对IC的设计趋势、流程；RTL代码；IC系统的层次化设计和模块划分；设置电路的设计目标和约束；综合库和静态时序分析；电路优化；拓扑技术和低功耗设计作了较详细的阐述及分析。  



目录：  

章集成电路设计概论
1．1摩尔定律
1．2集成电路系统的组成
1．3集成电路的设计流程

第二章数字电路的高级设计和逻辑综合
2．1RTL硬件描述语言设计
2．1．1行为级硬件描述语言（BehavloralLevelHDL）
2．1．2寄存器传输级硬件描述语言（RTLHDL）
2．1．3结构化硬件描述语言（StructurceHDL）
2．2逻辑综合（Logle：synthesis）
2．2．1逻辑综合的基本步骤
2．2．2综合工具DesignCompller
2．2．3目标库和初始环境设置

第三章系统的层次化设计和模块划分
3．1设计组成及DC-Tcl
3．1．1设计物体（DesigilObject）
3．1．2DC-TCI简介
3．2层次（Hierarchy）结构和模块划分（Partition）及修改
3．2．1层次结构的概念
3．2．2模块的划分
3．2．3模块划分的修改

第四章电路的设计目标和约束
4．1设计的时序约束
4．1．1同步（Synchronous）电路和异步（Ashrnchronous）电路
4．1．2亚稳态（Metastability）
4．1．3单时钟同步设计的时序约束
4．1．4设计环境的约束
4．1．5多时钟同步设计的时序约束
4．1．6异步设计的时序约束
4．1．7保持时间（HoldTime）
4．2复杂时序约束
4．2．1多时钟周期（Multi-Cycle）的时序约束
4．2．2门控时钟的约束
4．2．3分频电路和多路传输电路的时钟约束
4．3面积约束

第五章综合库和静态时序分析
5．1综合库和设计规则
5．1．1综合库
5．1．2设计规则
5．2静态时序分析
5．2．1时序路径和分组
5．2．2时间路径的延迟
5．2．3时序报告和时序问题的诊断

第六章电路优化和优化簧略
6．1电路优化
6．1．1Syrlopsys的知识产权库DesignWare
6．1．2电路优化的三个阶段
6．2优化策略
6．2．1编辑策略
6．2．2自动芯片综合（AutomatedchipSyrlthesis）
6．3网表的生成格式及后处理

第七章物理综合
7．1逻辑综合（LogicSynthesis）遇到的问题
7．2物理综合（Physicalsynthesis）的基本流程
7．3逻辑综合的拓扑技术（TopographicalTechnology）

第八章可测试性设计
8．1生产测试简介
8．2可测试性设计
8．2．1物理瑕疵和故障模型
8．2．2D算法（Dalgorithm）
8．3测试协议（TestProtocol）
8．4测试的设计规则
8．4．1可测试性设计中的时钟信号
8．4．2三态总线和双向端口的测试
8．5门级网表可测试问题的自动修正
8．6扫描链的插入
8．7可测试设计的输出和流程
8．8自适应性扫描压缩技术

第九章低功耗设计和分析
9．1工艺库的功耗模型
9．2功耗的分析
9．3低功耗电路的设计和优化
9．3．1门控时钟电路
9．3．2操作数分离
9．3．3门级电路的功耗优化
9．3．4多个供电电压（Multi-VDD）
9．3．5电源门控
参考文献